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高頻LCR數(shù)字電橋簡要介紹
■ SDY2826系列元件測試儀是*臺符合LXI標(biāo)準(zhǔn)的新一代阻抗測試儀器，其0.1%的基本精度、20Hz～5MHz的頻率范圍可以滿足元件與材料絕大部分低壓參數(shù)的測量要求，可廣泛應(yīng)用于諸如傳聲器、諧振器、電感器、陶瓷電容器、液晶顯示器、變?nèi)荻O管、變壓器等進(jìn)行諸多電氣性能的分析及低ESR電容器和高Q電感器的測量。
■ SDY2826系列產(chǎn)品超高速的測試速度使其特別適用于自動供應(yīng)線的點檢機，壓電器件的頻率響應(yīng)曲線分析等等。其多種輸出阻抗模式可以適應(yīng)各個電感變壓器廠家的不同標(biāo)準(zhǔn)需求。
■ SDY2826系列產(chǎn)品以其的性能可以實現(xiàn)商業(yè)標(biāo)準(zhǔn)和軍用標(biāo)準(zhǔn)如IEC和MIL標(biāo)準(zhǔn)的各種測試。
高頻LCR數(shù)字電橋廣泛的測量對象
無源元件：電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò)元件等的阻抗參數(shù)評估和性能分析。半導(dǎo)體元件：變?nèi)荻O管的C-VDC特性；晶體管或集成電路的寄生參數(shù)分析其它元件：印制電路板、繼電器、開關(guān)、電纜、電池等的阻抗評估介質(zhì)材料：塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)和損耗角評估磁性材料：鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導(dǎo)磁率和損耗角評估半導(dǎo)體材料：半導(dǎo)體材料的介電常數(shù)、導(dǎo)電率和C-V特性液晶材料：液晶單元的介電常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性
技術(shù)參數(shù)
測試參數(shù) | C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR | |
測試頻率 | SDY2826 | 20 Hz～5MHz,10mHz步進(jìn) |
SDY2826A | 20 Hz～2MHz,10mHz步進(jìn) | |
測試信號電 | f≤1MHz | 10mV～5V,±（10%+10mV） |
平 | f>1MHz | 10mV～1V,±（20%+10mV) |
輸出阻抗 | 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω | |
基本準(zhǔn)確度 | 0.1% | |
| L | 0.0001 uH ～ 9.9999kH |
| C | 0.0001 pF ～ 9.9999F |
| R,X,Z,DCR | 0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ |
顯示范圍 | Y, B, G | 0.0001 nS ～ 99.999 S |
| D | 0.0001 ～ 9.9999 |
| Q | 0.0001 ～ 99999 |
| θ | -179.99°～ 179.99° |
測量速度 | 快速: 200次/s（f﹥30kHz） ,100次/s（f﹥1kHz） 中速: 25次/s, 慢速: 5次/s | |
校準(zhǔn)功能 | 開路 / 短路點頻、掃頻清零，負(fù)載校準(zhǔn) | |
等效方式 | 串聯(lián)方式, 并聯(lián)方式 | |
量程方式 | 自動, 保持 | |
顯示方式 | 直讀, Δ, Δ% | |
觸發(fā)方式 | 內(nèi)部, 手動, 外部, 總線 | |
內(nèi)部直流偏 | 電壓模式 | -5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步進(jìn) |
置源 | 電流模式（內(nèi)阻為50Ω） | -100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步進(jìn) |
比較器功能 | 10檔分選及計數(shù)功能 | |
顯示器 | 320×240點陣圖形LCD顯示 | |
存儲器 | 可保存20組儀器設(shè)定值 | |
| USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support) | |
| USB HOST(FAT16 and FAT32 support) | |
接口 | LAN(LXI class C support) | |
RS232C | ||
HANDLER | ||
GPIB（選件） | ||
